1
Angewandte Oberflächenanalyse : mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie : 20 Tabellen /
Book
2
Practical surface analysis : by Auger and x-ray photoelectron spectroscopy /
Book
Briggs, D.
1983
Subject (ZB): ...XPS (X-ray photoelectron spectroscopy)...