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Angewandte Oberflächenanalyse : mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie : 20 Tabellen /
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Subject (ZB): “...XPS (X-ray photoelectron spectroscopy)...”
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International vacuum congress 7: proceedings vol 3 : International conference on solid surfaces 3: proceedings vol 3 : IVC 1977: proceedings vol 3 : ICSS 1977: proceedings vol 3 : Wien, 12.09.77-16.09.77
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Subject (ZB): “...XPS (X-ray photoelectron spectroscopy)...”
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