1
Untersuchungen an reinen und mit Wasserstoff bedeckten SiC(100)- Oberflächen mit hochauflösender Elektronenenergieverlustspektroskopie [E-Book] /
“...FHAB - Surface and thin film characterization...”

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2
Aufbau eines hochauflösenden Elektronenenergieverlustspektrometers mit integriertem Rastertunnelmikroskop : potentielle Einsatzmöglichkeiten erläutert am Beispiel der Ostwald-Reifung von Kupferinseln auf Cu(100) und der Reaktionen von Kalium auf Pt(111)-Flächen [E-Book] /
“...FHAB - Surface and thin film characterization...”

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3
Practical surface analysis . 1 . Auger and x-ray photoelectron spectroscopy
Book
Briggs, D.
1990
“...FHAB - Surface and thin film characterization...”
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4
Angewandte Oberflächenanalyse : mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie : 20 Tabellen /
Book
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5
Practical surface analysis : by Auger and x-ray photoelectron spectroscopy /
Book
Briggs, D.
1983
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6
Electron and ion beam methods for surface analysis : international workshop : Newcastle, 23.02.81-27.02.81.
Book
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7
Electron and ion spectroscopy of solids : Based on the lectures pres. at the NATO Advanced Study Institute : Gent, 29.08.77-09.09.77 /
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8
Electron spectroscopy for surface analysis /
Book
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