Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse / Peter Fritz Schmidt ; L. J. Balk ; R. Blaschke ; W. Bröcker ; E. Demm [und 9 andere]
scanning electron microscopy and microanalysis
Saved in:
Personal Name(s): | Schmidt, Peter Fritz, author |
---|---|
Balk, L. J., author / Blaschke, R., author / Bröcker, W., author / Demm, E., author | |
Imprint: |
Renningen :
Expert Verlag,
1994
|
Physical Description: |
810 Seiten |
Note: |
deutsch |
ISBN: |
3816910386 9783816910381 |
Series Title: |
Kontakt und Studium ;
444 |
Subject (ZB): | |
Classification: |