1
Optische und elektrische Eigenschaften von Schichtsystemen aus porösem Silizium [E-Book] /
2
Spektroskopische Untersuchungen zur Bildung und Degradation poröser Silicium-Schichten [E-Book] /
3
Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen [E-Book] /
4
Kompositionelle und strukturelle Charakterisierung von verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie [E-Book] /
5
Photolumineszenz-Spektroskopie an Si(1-x)Ge(x)/Si Heterostrukturen [E-Book] /
6
Röntgenabsorptionsmessungen an Eisen-, Nickel- und Kupferlegierungen und an amorphem Germanium [E-Book] /
7
Plasmaabscheidung von mikrokristallinem Silizium : Merkmale und Mikrostruktur und deren Deutung im Sinne von Wachstumsvorgängen [E-Book] /
8
Crystal habit of CVD grown silicon in relation to adsorption processes.
Book
9
Epitaktische Abscheidung von monokristallinem Silizium bei reduziertem Totaldruck.
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10
Nanokristallines Silicium: Darstellung, Charakterisierung und Photolumineszenz.
Book
11
Infrarotspektroskopie an porösem Silizium und zweidimensionalen Elektronengassystemen bzw Löchergassystemen.
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12
Poröses Silicium für die Mikrooptik : Herstellung, Mikrostruktur und optische Eigenschaften von Einzelschichten und Schichtsystemen [E-Book] /
13
Elektronenspektroskopie im Röntgenbereich von besetzten und unbesetzten Zuständen und die Anwendung auf Übergangsmetallsilizide [E-Book] /
14
Rekombination in amorphem Silizium (a- Si:H) und amorphen Silizium/Germanium Legierungen (a- Si(1-x)Ge(x):H) [E-Book] /
15
Structural and optical properties of porous silicon nanostructures : edited by G. Amato, C. Delerue and H.-J. von Bardeleben
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16
Halbleiter. Teilband B. Störstellen und Defekte in Elementen der IV. Gruppe und III-V Verbindungen : Ergänzungen und Erweiterungen zu Band III/17 /
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17
Properties of silicon germanium and SiGe:carbon /
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18
Nitride semiconductors : handbook on materials and devices /
Book
19
Materials issues in microcrystalline semiconductors : symposium held November 29-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A. /
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20
Stacking fault energy in silicon [E-Book] /