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Grundlegende Untersuchungen zu Phononenlokalisierung und Ramanstreuung in nanokristallinem Silizium sowie zur Photolumineszenz in diesem und relevanten Materialien /
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Darstellung und Charakterisierung epitaktischer 3C-SiC Schichten auf Si(100) Substraten /
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Silicides, germanides, and their interfaces: symposium : MRS fall meeting 1993 : Boston, MA, 29.11.93-02.12.93.
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Kompositionelle und strukturelle Charakterisierung von verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie [E-Book] /
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Photolumineszenz-Spektroskopie an Si(1-x)Ge(x)/Si Heterostrukturen [E-Book] /
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Untersuchung von dünnen Silizidschichten auf Silizium mittels Elektronenspektroskopiemethoden [E-Book] /
7
Semiconductor silicon: materials science and technology : Summer school on silicon: materials science and technology: proceedings : International school of materials science and technology course 0016 : Erice, 03.07.88-15.07.88.
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8
Physical chemistry of, in and on silicon.
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Semiconductor silicon. 1986 : International Symposium on Silicon Materials Science and Technology : 0005: proceedings : Boston, MA, 05.05.86-09.05.86.
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10
Silicon nitride for microelectronic applications. 1 : Preparation and properties.
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