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Optische und elektrische Eigenschaften von Schichtsystemen aus porösem Silizium [E-Book] /

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Optische und elektrische Eigenschaften von Schichtsystemen aus porösem Silizium [E-Book] /

Hunkel, Dirk Georg
1999

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Spektroskopische Untersuchungen zur Bildung und Degradation poröser Silicium-Schichten [E-Book] /

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Spektroskopische Untersuchungen zur Bildung und Degradation poröser Silicium-Schichten [E-Book] /

Frohnhoff, Stephan
1993

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Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen [E-Book] /

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Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen [E-Book] /

Thönissen, Markus
1999

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Kompositionelle und strukturelle Charakterisierung von verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie [E-Book] /

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Kompositionelle und strukturelle Charakterisierung von verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie [E-Book] /

Stenkamp, Dirk
1993

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Photolumineszenz-Spektroskopie an Si(1-x)Ge(x)/Si Heterostrukturen [E-Book] /

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Photolumineszenz-Spektroskopie an Si(1-x)Ge(x)/Si Heterostrukturen [E-Book] /

Hartmann, Arno
1993

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Röntgenabsorptionsmessungen an Eisen-, Nickel- und Kupferlegierungen und an amorphem Germanium [E-Book] /

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Stegemann, G.
1986

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Plasmaabscheidung von mikrokristallinem Silizium : Merkmale und Mikrostruktur und deren Deutung im Sinne von Wachstumsvorgängen [E-Book] /

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Houben, Lothar
2000

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Crystal habit of CVD grown silicon in relation to adsorption processes.

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Crystal habit of CVD grown silicon in relation to adsorption processes.

Gardeniers, J. G.
1990

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Epitaktische Abscheidung von monokristallinem Silizium bei reduziertem Totaldruck.

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Epitaktische Abscheidung von monokristallinem Silizium bei reduziertem Totaldruck.

Krullmann, Eike.
1981

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Nanokristallines Silicium: Darstellung, Charakterisierung und Photolumineszenz.

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Rueckschloss, Markus.
1993

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Infrarotspektroskopie an porösem Silizium und zweidimensionalen Elektronengassystemen bzw Löchergassystemen.

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Infrarotspektroskopie an porösem Silizium und zweidimensionalen Elektronengassystemen bzw Löchergassystemen.

Mueller, Frank D.
1993

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Poröses Silicium für die Mikrooptik : Herstellung, Mikrostruktur und optische Eigenschaften von Einzelschichten und Schichtsystemen [E-Book] /

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Poröses Silicium für die Mikrooptik : Herstellung, Mikrostruktur und optische Eigenschaften von Einzelschichten und Schichtsystemen [E-Book] /

Berger, Michael Götz
1996

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Elektronenspektroskopie im Röntgenbereich von besetzten und unbesetzten Zuständen und die Anwendung auf Übergangsmetallsilizide [E-Book] /

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Elektronenspektroskopie im Röntgenbereich von besetzten und unbesetzten Zuständen und die Anwendung auf Übergangsmetallsilizide [E-Book] /

Speier, Wolfgang
1988

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Rekombination in amorphem Silizium (a- Si:H) und amorphen Silizium/Germanium Legierungen (a- Si(1-x)Ge(x):H) [E-Book] /

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Rekombination in amorphem Silizium (a- Si:H) und amorphen Silizium/Germanium Legierungen (a- Si(1-x)Ge(x):H) [E-Book] /

Ambros, Stefan
1991

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Kristallwachstum von Germanium/Silizium- Legierungen beim Bridgman-Verfahren [E-Book] /

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Kristallwachstum von Germanium/Silizium- Legierungen beim Bridgman-Verfahren [E-Book] /

Karthaus, Engelbert
1991

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Photoelektronenspektroskopie von Mikrokirstallinem Silizium [E-Book] /

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Photoelektronenspektroskopie von Mikrokirstallinem Silizium [E-Book] /

Böhmer, Elmar
2000

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Mikrostruktur des porösen Siliziums: optische und elektronenspektroskopische Untersuchungen [E-Book] /

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Mikrostruktur des porösen Siliziums: optische und elektronenspektroskopische Untersuchungen [E-Book] /

Münder, Herbert
1992

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Untersuchungen des Wachstums und der Struktur von Siliziden mittels Rastertunnelmikroskopie und Rastertunnelspektroskopie [E-Book] /

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Untersuchungen des Wachstums und der Struktur von Siliziden mittels Rastertunnelmikroskopie und Rastertunnelspektroskopie [E-Book] /

Raunau, Werner
1993

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Elektronische Struktur von Silizium-karbid-Polytypen untersucht mit Weichröntgenspektroskopie [E-Book] /

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Elektronische Struktur von Silizium-karbid-Polytypen untersucht mit Weichröntgenspektroskopie [E-Book] /

Ellmers, Christoph
1996

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Amorphisierung und Spannungsabbau in Silizidfilmen unter Ionenbeschuß [E-Book] /

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Amorphisierung und Spannungsabbau in Silizidfilmen unter Ionenbeschuß [E-Book] /

Hardtke, Christoph
1992

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Thönissen, Markus 2 Ambros, Stefan 1 Arens-Fischer, Rüdiger 1 Backes, Ulrich 1 Behren, Jens von. 1 Berger, Michael Götz 1 more ... Böhmer, Elmar 1 Deubler, S. 1 Ellmers, Christoph 1 Frohnhoff, Stephan 1 Gardeniers, J. G. 1 Hardtke, Christoph 1 Hartmann, Arno 1 Heckler, Harald. 1 Hofker, W. K. 1 Holländer, Bernhard 1 Houben, Lothar 1 Hunkel, Dirk Georg 1 Karthaus, Engelbert 1 Krullmann, Eike. 1 Krüger, Michael. 1 Kunstmann, Thomas. 1 Loo, Roger 1 Moeller, U. 1 Mueller, Frank D. 1 Muz, Christof. 1 Münder, Herbert 1 Ossadnik, Christoph. 1 Ostendorf, Hans-Christoph. 1 Popovic, Srdjan 1 see all ... less ...

silicon 15 porous silicon 10 epitaxy 4 germanium 4 semiconductor heterostructure 4 silicide 4 more ... optical properties 3 optoelectronics 3 photoluminescence 3 Bridgman method 2 electrical properties 2 impurity 2 microstructure 2 nanostructured material 2 scanning tunneling microscopy 2 silicon carbide 2 thin film 2 Raman spectroscopy 1 XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) 1 alloy 1 amorphization 1 amorphous silicon 1 characterization 1 chemical vapor deposition 1 crystal growth from vapor 1 electron gas 1 electron microscopy 1 electron spectroscopy 1 electronic structure 1 elemental semiconductor 1 see all ... less ...

FJKB - Elemental semiconductors FFPE - Thin film electronic properties, semiconductor interfaces 5 FFGC - Electron spectroscopy 4 FFPG - Multilayer systems, quantum structures 4 FJLB - Physics of semiconductor devices 4 FEJP - Porous media, capillarity 3 more ... FGCD - Crystal growth of specific substances 3 FGK - Thin film technology, epitaxy 3 FGM - Microelectronic technology 3 FJEC - Amorphous semiconductors 3 FHAB - Surface and thin film characterization 2 FHEG - Tunneling microscopy, force microscopy 2 FHLB - Soft X-ray spectroscopy 2 FJNC - Optical spectroscopy in solids 2 FJNH - Excited states in solids 2 CUA - Spectroscopy 1 CUR - Infrared spectroscopy 1 FEJB - Amorphous materials 1 FFP - Physics of thin films 1 FGGB - Ion implantation, ion beam synthesis 1 FGGE - Ion beam surface modification 1 FGGJ - Ion beam analysis, ion beam solid interaction 1 FGKF - Chemical vapor deposition 1 FGKJ - Plasma processing, etching 1 FGML - Characterization of electronic materials 1 FHGJ - High resolution and high voltage electron microscopy 1 FHT - Gamma spectroscopy in solids 1 FJBC - Dielectric materials 1 FJHE - Defects and radiation effects in semiconductors 1 FJKC - III - V semiconductors 1 see all ... less ...

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