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Photoelektronenspektroskopie von Mikrokirstallinem Silizium [E-Book] /
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Plasmaabscheidung von mikrokristallinem Silizium : Merkmale und Mikrostruktur und deren Deutung im Sinne von Wachstumsvorgängen [E-Book] /
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Charakterisierung und Optimierung der Materialeigenschaften von porösem Silicium für aktive und passive optische Bauelemente [E-Book] /
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Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen [E-Book] /
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Optische und elektrische Eigenschaften von Schichtsystemen aus porösem Silizium [E-Book] /
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Elektronische Struktur von Silizium-karbid-Polytypen untersucht mit Weichröntgenspektroskopie [E-Book] /
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Poröses Silicium für die Mikrooptik : Herstellung, Mikrostruktur und optische Eigenschaften von Einzelschichten und Schichtsystemen [E-Book] /
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Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium [E-Book] /
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Inselwachstum von Übergangsmetallsiliziden auf Siliziumoberflächen [E-Book] /
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Untersuchung von Silizium Germanium/Silizium-Heterostrukturen mittels kapazitiver Methoden und Hall-Effekt [E-Book] /
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Strukturelle und elektrische Eigenschaften von epitaktischen, metallischen und halbleitenden Siliziden [E-Book] /
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Spektroskopische Untersuchungen zur Bildung und Degradation poröser Silicium-Schichten [E-Book] /
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Photolumineszenz-Spektroskopie an Si(1-x)Ge(x)/Si Heterostrukturen [E-Book] /
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Kompositionelle und strukturelle Charakterisierung von verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie [E-Book] /
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Untersuchungen des Wachstums und der Struktur von Siliziden mittels Rastertunnelmikroskopie und Rastertunnelspektroskopie [E-Book] /
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Amorphisierung und Spannungsabbau in Silizidfilmen unter Ionenbeschuß [E-Book] /
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Mikrostruktur des porösen Siliziums: optische und elektronenspektroskopische Untersuchungen [E-Book] /
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Quantitative Augerelektronenspektroskopie zur Tiefenprofilanalyse von Schichtsystemen am Beispiel von Silizium nach Nickelimplantation /
Book
...FJKB - Elemental semiconductors...
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Untersuchung von dünnen Silizidschichten auf Silizium mittels Elektronenspektroskopiemethoden [E-Book] /
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Untersuchung von Interdiffusion, elastischer Gitterverzerrung und Relaxation in epitaktischen Si(1-x)Ge(x)/Silicon Heterostrukturen mit Ionenstreuung [E-Book] /